基于近红外高光谱成像的猕猴桃早期隐性损伤识别
为了研究识别早期隐性损伤猕猴桃的方法，以“华优”猕猴桃为对象，以９００～１７００ｎｍ范围近红外高光谱成像系统为检测设备，采集了完好无损和隐性损伤１～３ｈ内猕猴桃的近红外高光谱。